新生兒腦電生理監(jiān)測分級管理專家共識 中華醫(yī)學會圍產(chǎn)醫(yī)學分會
標準·方案·指南
中華醫(yī)學會兒科學分會新生兒學組
中國當代兒科雜志編輯委員會
國家衛(wèi)生健康委員會新生兒疾病重點實驗室
2022年第24卷第2期第115-123頁
通信作者:
周文浩,男,主任醫(yī)師,復旦大學附屬兒科醫(yī)院新生兒科/國家衛(wèi)生健康委員會新生兒疾病重點實驗室,Email:zhouwenhao@fudan.edu.cn;
程國強,男,主任醫(yī)師,復旦大學附屬兒科醫(yī)院新生兒科,Email:gqcheng_cm@fudan.edu.cn。
摘要美國臨床神經(jīng)生理學協(xié)會已經(jīng)發(fā)表了新生兒腦電圖監(jiān)測指南,中國也發(fā)表了新生兒振幅整合腦電圖(amplitude-integrated electroencephalogram,aEEG)專家共識。由于缺乏腦電監(jiān)測設備和專業(yè)解讀人員,不同級別的新生兒病房很難嚴格按照指南或共識進行腦電監(jiān)測。中華醫(yī)學會兒科學分會新生兒學組成立了由新生兒、兒童神經(jīng)和神經(jīng)電生理專業(yè)人員組成的專家組對已經(jīng)發(fā)表的指南和專家共識及相關(guān)領(lǐng)域的文獻進行審查,建立了適用于不同級別新生兒病房腦電監(jiān)測的分層管理建議。基于視頻腦電圖和aEEG特點,根據(jù)當?shù)蒯t(yī)療資源和患兒疾病特征,專家組認為視頻腦電圖和aEEG可以互相補充應用,適用于不同級別的新生兒病房。該共識對促進新生兒、兒童神經(jīng)和神經(jīng)電生理專業(yè)人員之間的合作和遠程腦電監(jiān)測實施提出了建議。 關(guān)鍵詞 腦電圖;振幅整合腦電圖;癲癇發(fā)作;腦病;專家共識;高危兒;新生兒正文雖然危重新生兒救治成功率增加,但腦損傷的發(fā)生率并未相應降低[1]。低溫治療逐漸成為缺氧缺血性腦?。╤ypoxic-ischemic encephalopathy,HIE)患兒的標準治療方法,如何在生后6 h內(nèi)早期篩查出適合低溫治療的患兒面臨諸多挑戰(zhàn)[2]。所有年齡段中,新生兒期癲癇發(fā)作的發(fā)生率最高。癲癇發(fā)作可能提示患兒存在嚴重的神經(jīng)系統(tǒng)疾病,且癲癇發(fā)作本身及相關(guān)的治療藥物可能導致腦損傷[3-4]。腦電監(jiān)測在新生兒腦損傷診斷、嚴重程度評估、預后評價和驚厥管理中的價值日益受到重視。近20年腦電監(jiān)測在新生兒領(lǐng)域的應用快速發(fā)展,國內(nèi)大多數(shù)醫(yī)院也開展了不同程度和方式的腦電監(jiān)測。
新生兒常用腦電監(jiān)測方法主要有視頻腦電圖(video electroencephalogram,vEEG)和振幅整合腦電圖(amplitude-integrated electroencephalogram,aEEG)。全球范圍內(nèi)很多新生兒重癥監(jiān)護病房(neonatal intensive care unit,NICU)可以開展vEEG監(jiān)測,但由于設備、操作和專業(yè)解讀人員不足,只有少數(shù)單位能夠進行24 h連續(xù)監(jiān)測[5]。因此aEEG由于通道數(shù)較少、操作方便、界面直觀、連續(xù)記錄、可同時顯示原始腦電圖和不需要專業(yè)人員解讀等優(yōu)點越來越受到重視,在新生兒領(lǐng)域應用逐漸增多[6-7]。如果采用aEEG進行腦電監(jiān)測,應至少進行雙通道監(jiān)測,并結(jié)合原始腦電圖判讀,否則容易漏診或誤判,特別是新生兒癲癇發(fā)作的診斷。新生兒癲癇發(fā)作治療應參考vEEG和/或aEEG的原始腦電圖結(jié)果來處理。盡管aEEG識別新生兒癲癇發(fā)作的敏感性和特異性不如vEEG,但仍可早期評估新生兒腦病的嚴重程度和預后,早期識別反復性癲癇發(fā)作和持續(xù)狀態(tài),可作為新生兒癲癇發(fā)作的篩查工具[4]。
美國臨床神經(jīng)生理學協(xié)會(American Clinical Neurophysiology Society,ACNS)于2011年發(fā)布了首個新生兒連續(xù)腦電監(jiān)測指南[5],隨后發(fā)布了相關(guān)標準化腦電圖術(shù)語和分類[8-9]。該指南[5]提出vEEG是新生兒連續(xù)腦電監(jiān)測的金標準,同時指出該指南只是一個理想化的而非強制性的標準。隨后其他國家也發(fā)布了針對成人和兒童ICU腦電監(jiān)測指南和專家共識[10-13]。上述指南和專家共識為新生兒腦電監(jiān)測提供了重要參考建議,但關(guān)于不同級別的新生兒病房、不同新生兒疾病如何選擇vEEG和aEEG,如何進行分層管理,都沒有提出明確的建議。
中華醫(yī)學會兒科學分會新生兒學組認為基于vEEG和aEEG特點,結(jié)合當?shù)蒯t(yī)療資源和疾病特征,vEEG和aEEG可以互補應用,可制定適用于不同級別的新生兒病房腦電監(jiān)測方案。為此,新生兒學組牽頭組成共識制定小組,對相關(guān)領(lǐng)域的文獻進行復習,提出基于我國不同級別新生兒病房常見臨床情況下使用vEEG和aEEG的共識。
1 腦電監(jiān)測設備的選擇
一項基于網(wǎng)絡的國際調(diào)查顯示,只有51%的新生兒病房同時使用vEEG和aEEG,其中vEEG主要由神經(jīng)生理學家解釋(72%)[14]。美國和英國進行的問卷調(diào)查顯示,41%~55%的新生兒醫(yī)學中心可以進行aEEG監(jiān)測[13,15]。2018年我們開展的基于網(wǎng)絡問卷的調(diào)查顯示,64%(160/251)NICU可進行腦電圖監(jiān)測。兒童醫(yī)院比例(97%)明顯高于婦幼醫(yī)院(72%)和綜合醫(yī)院(52%),同樣,三級醫(yī)院的腦電圖使用率高于二級和一級醫(yī)院(69% vs 29%)。在提供腦電圖的醫(yī)院中,aEEG的使用率(60%)顯著高于vEEG(14%)和aEEG聯(lián)合vEEG(26%)[16]。新生兒腦電圖監(jiān)測最低技術(shù)標準、操作和報告解讀請參閱本期《新生兒腦電圖操作和報告書寫最低技術(shù)標準專家共識》[17]。
推薦意見1:獨立設置的新生兒病房應配置腦電監(jiān)測設備。
金標準:新生兒神經(jīng)重癥監(jiān)護單元和NICU腦電監(jiān)測應優(yōu)先配置可同時顯示aEEG圖形的vEEG監(jiān)測設備。
備選方案:其他新生兒病房至少應配置aEEG監(jiān)測設備,優(yōu)先選擇帶有同步視頻監(jiān)測的設備。
2 新生兒腦病腦電監(jiān)測
新生兒腦病是一種異質(zhì)性綜合征,表現(xiàn)為意識水平異常(如易激惹、嗜睡和昏迷)、癲癇發(fā)作、肌張力和反射異常、呼吸暫停及喂養(yǎng)困難,是足月兒或晚期早產(chǎn)兒常見的腦功能障礙[18]。
腦電監(jiān)測廣泛應用于新生兒腦病診斷和嚴重程度評估,與臨床和影像學評估相關(guān)性較好[6,19-20]。新生兒腦病從急性期至恢復期的過程中,腦電背景異常持續(xù)數(shù)天至數(shù)周,逐漸演變?yōu)榉翘禺愋援惓!3掷m(xù)腦電圖背景電活動評估可動態(tài)追蹤急性腦病特征及其演變,是評估遠期神經(jīng)發(fā)育結(jié)局較好的工具之一[5]。腦電圖上睡眠覺醒周期也是評估預后較好的指標,生后36 h出現(xiàn)睡眠覺醒周期提示預后良好,而常規(guī)腦電圖監(jiān)測很難記錄到完整的睡眠覺醒周期,因此,需要延長監(jiān)測時間(3~4 h)或連續(xù)監(jiān)測才能更可靠地評估腦電圖背景電活動和/或睡眠覺醒周期[5,11,13]。最佳記錄時機取決于腦病的臨床演變情況。腦病急性期腦電圖變化更顯著,更具有特征性,對遠期預后的評估價值更大,建議一旦有腦病癥狀應即刻進行監(jiān)測,根據(jù)臨床和初次腦電圖監(jiān)測結(jié)果進行隨訪[5,19-20]。
多數(shù)新生兒腦病評估文獻集中于HIE研究,其他包括遺傳代謝性腦病、嚴重顱腦創(chuàng)傷、顱內(nèi)出血、圍生期腦卒中、中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染等[21-24]。由于HIE患兒涉及到低溫治療,本共識將HIE單獨列出。
推薦意見2:所有確診或疑診腦病的新生兒應盡快進行腦電監(jiān)測。
金標準:所有確診或疑診腦病的新生兒應采用可同時顯示aEEG圖形的vEEG監(jiān)測設備進行連續(xù)監(jiān)測,直到腦病癥狀消失或腦電圖正常。腦病癥狀和/或腦電圖持續(xù)異常者最少監(jiān)測72 h。
備選方案1:所有確診或疑診腦病的新生兒應采用可同時顯示aEEG圖形的vEEG監(jiān)測設備持續(xù)監(jiān)測至少一個完整的睡眠覺醒周期。
備選方案2:所有確診或疑診腦病的新生兒應進行連續(xù)aEEG監(jiān)測。aEEG解讀存在疑問且可能影響臨床決策時應進行vEEG監(jiān)測。
3 新生兒HIE腦電監(jiān)測
腦電監(jiān)測在評估HIE患兒嚴重程度和遠期預后方面具有很高的敏感性和特異性[6,25-26]。常溫治療時期嚴重異常的腦電圖模式持續(xù)36 h以上提示不良神經(jīng)發(fā)育結(jié)局的風險顯著增高;低溫治療時期嚴重異常腦電圖模式持續(xù)60h以上或睡眠覺醒周期72 h不出現(xiàn),不良神經(jīng)發(fā)育結(jié)局的風險顯著增加[6,27-28]。
低溫治療作為HIE常規(guī)治療手段,最佳治療時間窗為生后6 h,腦電監(jiān)測可用于生后6 h內(nèi)HIE嚴重程度的評估,用于篩查適合低溫治療的HIE患兒,同時指導低溫治療期間的管理[2,29-30]。6項全球低溫治療HIE的多中心研究中有3項研究將早期aEEG監(jiān)測結(jié)果作為入選低溫治療的標準之一[2,29-30]。生后6 h腦電圖模式正常具有很高的陰性預測值。
推薦意見3:可采用腦電監(jiān)測篩選適合低溫治療的HIE患兒。
金標準:采用同時顯示aEEG圖形的vEEG監(jiān)測設備連續(xù)監(jiān)測至少30 min。
備選方案:采用aEEG監(jiān)測設備監(jiān)測至少30 min。
推薦意見4:HIE患兒低溫治療期間應進行腦電監(jiān)測。
金標準:低溫治療和復溫期間采用可同時顯示aEEG圖形的vEEG監(jiān)測設備進行連續(xù)監(jiān)測。
備選方案1:低溫治療和復溫期間采用aEEG監(jiān)測設備連續(xù)監(jiān)測。aEEG結(jié)果解讀存在疑問,特別是影響臨床決策時,應盡快進行vEEG監(jiān)測。
備選方案2:不能進行連續(xù)監(jiān)測時應采用vEEG或aEEG每天進行間斷監(jiān)測,每次監(jiān)測不少于3 h或1個完整的睡眠覺醒周期,并至少需要監(jiān)測4 d或至腦電圖變?yōu)檎?輕度異常。
推薦意見5:低溫治療結(jié)束后或出院前應進行1次腦電監(jiān)測,至少監(jiān)測1個完整的睡眠覺醒周期或3 h以上。優(yōu)先采用可同時顯示aEEG圖形的vEEG監(jiān)測設備。
4 疑似癲癇發(fā)作新生兒的腦電監(jiān)測
癲癇發(fā)作是新生兒腦病或腦損傷高危兒常見癥狀,也是新生兒急診之一。其臨床表現(xiàn)細微或無臨床表現(xiàn),特別是危重新生兒或抗癲癇發(fā)作藥物治療后[4]。NICU醫(yī)護人員僅能正確識別50%的臨床發(fā)作,微小發(fā)作的正確識別只有32%。醫(yī)護人員對新生兒癲癇發(fā)作識別的一致性僅為21%,其他醫(yī)護人員識別的一致性更低[4,31-32]。僅靠臨床觀察可能會漏診或過度診斷新生兒癲癇發(fā)作。連續(xù)vEEG是新生兒癲癇發(fā)作診斷的金標準,可以準確監(jiān)測發(fā)作次數(shù)、持續(xù)時間、發(fā)作起源和傳播途徑[5],但操作復雜、價格較貴、需要專業(yè)技術(shù)人員進行操作和腦電生理專家進行專業(yè)解讀,并不是所有新生兒病房能進行24 h進行監(jiān)測。不能進行vEEG持續(xù)監(jiān)測時,aEEG可以作為替代監(jiān)測方法。帶有原始腦電圖的aEEG與vEEG比較,不同研究之間的敏感性中位數(shù)為76%(范圍:71%~85%),特異性為85%(范圍:39%~96%)[33-35]。aEEG在不同研究間的敏感性和特異性存在很大差異,不能推薦aEEG代替vEEG作為新生兒癲癇發(fā)作診斷和治療的主要手段。aEEG監(jiān)測時,低振幅、持續(xù)時間短的癲癇樣放電或遠離aEEG電極監(jiān)測通道的癲癇發(fā)作可能被漏診。另外,由于通道較少,不能評估新生兒癲癇發(fā)作的空間演變[6,11,35]。aEEG解讀存在疑問時,應進行vEEG監(jiān)測。使用至少雙通道對左右半球分別監(jiān)測時,aEEG的靈敏度會更高,中央和頂葉通道(C3~C4、P3~P4)比額葉通道更易監(jiān)測到新生兒癲癇發(fā)作[7,13]。如果vEEG監(jiān)測條件有限,可先給予vEEG監(jiān)測60~90 min,識別出特定的致癇區(qū),有助于確定aEEG監(jiān)測的電極放置的通道[5,11]。有關(guān)新生兒癲癇發(fā)作和診斷可參考國際抗癲癇聯(lián)盟新生兒癲癇發(fā)作分類特別工作組專家建議解讀(2021年)[4]。
不同的NICU開始記錄腦電圖的時間、監(jiān)測時間及獲得腦電圖專家報告的時間存在差異,即使可以進行連續(xù)vEEG監(jiān)測的中心,也很難及時識別新生兒癲癇發(fā)作[36-38]。目前已有帶新生兒癲癇發(fā)作自動診斷系統(tǒng)的監(jiān)測設備上市,但其臨床應用價值有待于更深入的研究[39-41],本共識不能形成推薦意見。
vEEG和aEEG均可提供關(guān)于電-臨床發(fā)作的特定類型、背景活動及局灶性異常的信息,在確定病因、指導診斷和治療方面,vEEG優(yōu)于aEEG[36]。對于沒有典型的神經(jīng)影像學線索,但有特征性腦電圖改變的新生兒癲癇發(fā)作,可根據(jù)vEEG特征提供針對性的治療如遺傳性疾病、維生素B6缺乏或離子通道?。ㄈ鏚CNQ2和SCN2A基因變異)[21,42]。
腦電監(jiān)測是新生兒癲癇發(fā)作預后的重要預測指標:vEEG或aEEG背景活動嚴重異常與新生兒不良神經(jīng)發(fā)育結(jié)局和患癲癇的風險增加有關(guān)[36-38]。疑似癲癇發(fā)作事件見表1。
(略)
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網(wǎng)址: 新生兒腦電生理監(jiān)測分級管理專家共識 中華醫(yī)學會圍產(chǎn)醫(yī)學分會 http://m.u1s5d6.cn/newsview630817.html
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